半導体技術者検定対策動画

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2024年7月24日更新

エレクトロニクス2級出題問題解説
「パワーエレクトロニクス」科目個別問題

12:43IGBTの耐圧

講師:松田順一 先生(群馬大学 協力研究員)

エレクトロニクス2級出題問題解説
「パワーエレクトロニクス」科目個別問題

12:21IGBTのラッチアップ

講師:松田順一 先生(群馬大学 協力研究員)

エレクトロニクス2級出題問題解説
「パワーエレクトロニクス」科目個別問題

14:54パワーデバイスの高性能化に必要なプロセス技術とは?

講師:松崎一夫 先生(元富士電機総合研究所 主席研究員)

エレクトロニクス2級出題問題解説
「パワーエレクトロニクス」科目個別問題

11:13パワーモジュール製造

講師:山本秀和 先生(PDEA 広報担当理事)

エレクトロニクス2級出題問題解説
「パワーエレクトロニクス」科目個別問題

12:08パワーモジュール高性能化

講師:山本秀和 先生(PDEA 広報担当理事)

エレクトロニクス2級出題問題解説
「パワーエレクトロニクス」科目個別問題

12:05信頼性 酸化膜不良Bモード

講師:遠藤幸一 先生(元 東芝デバイス&ストレージ(株))

エレクトロニクス2級出題問題解説
「パワーエレクトロニクス」科目個別問題

18:01信頼性評価方法 加速試験

講師:遠藤幸一 先生(元 東芝デバイス&ストレージ(株))

半導体技術者検定 お申込み方法

4:18お申込み方法

エレクトロニクス3級 出題問題解説

第1章

9:20FinFETの構造と動作原理

講師:井上智生 先生(広島市立大学大学院情報科学研究科 教授)

9:38テストの質と歩留まり

講師:井上智生 先生(広島市立大学大学院情報科学研究科 教授)

第2章

6:59設計での品質考慮(劣化の考慮)

講師:佐藤康夫 先生(九州工業大学 客員教授)

6:42故障メカニズム

講師:佐藤康夫 先生(九州工業大学 客員教授)

第3章

16:00ASICの種類と特徴について

講師:畠山一実 先生(群馬大学 協力研究員)

12:22イメージャの種類と特徴について

講師:畠山一実 先生(群馬大学 協力研究員)

第4章

12:18テスタを用いたデバイス試験

講師:畠山一実 先生(群馬大学 協力研究員)

14:37ACパラメトリック試験の測定項目について

講師:畠山一実 先生(群馬大学 協力研究員)

エレクトロニクス2級 出題問題解説

科目共通問題

11:38システムの信頼度

講師:井上美智子 先生(奈良先端科学技術大学院大学 教授)

13:05機能安全

講師:井上美智子 先生(奈良先端科学技術大学院大学 教授)

11:29ベアチップ実装におけるボンディング技術

講師:松崎一夫 先生(元富士電機総合研究所 主席研究員)

13:14シート抵抗または抵抗率は抵抗にどう関係する?

講師:松田順一 先生(群馬大学)

7:04CMOS論理回路

講師:高橋 寬 先生(愛媛大学大学院 教授)

5:34デバイスの製造工程

講師:高橋 寬 先生(愛媛大学大学院 教授)

9:10半導体の設計と検証

講師:高橋 寬 先生(愛媛大学大学院 教授)

7:00組合せ論理回路

講師:高橋 寬 先生(愛媛大学大学院 教授)

16:43テストと歩留り

講師:畠山一実 先生(元群馬大学 客員教授/協力研究員)

13:13プロセス評価技術-ゲート酸化膜評価

講師:松崎一夫 先生(元富士電機総合研究所 主席研究員)

19:27QC7つ道具について

講師:松崎一夫 先生(元富士電機総合研究所 主席研究員)

12:33品質管理手法のいろいろ

講師:松崎一夫 先生(元富士電機総合研究所 主席研究員)

13:45電力用装置に組み込まれたパワー素子の大電流測定方法

講師:松崎一夫 先生(元富士電機総合研究所 主席研究員)

「設計と製造」科目個別問題

13:07ウェーハの製造

講師:畠山一実 先生(群馬大学 協力研究員)

12:31ダイシングによるダイ分割について

講師:畠山一実 先生(群馬大学 協力研究員)

18:37設計検証(機能検証・論理検証)

講師:梶原誠司 先生(九州工業大学 教授)

21:40低電力設計

講師:梶原誠司 先生(九州工業大学 教授)

10:09安全動作領域(SOA)

講師:井上智生 先生(広島市立大学大学院情報科学研究科 教授)

9:28汎用ロジックIC

講師:井上智生 先生(広島市立大学大学院情報科学研究科 教授)

5:52テスト生成

講師:高橋 寬 先生(愛媛大学大学院 教授)

8:19故障辞書

講師:高橋 寬 先生(愛媛大学大学院 教授)

13:37モールドによるパッケージの封止成形

講師:畠山一実 先生(元群馬大学 客員教授/協力研究員)

16:43D/A変換器のDC特性

講師:畠山一実 先生(元群馬大学 客員教授/協力研究員)

11:35故障診断・解析

講師:高橋 寬 先生(愛媛大学大学院理工学研究科 教授)

8:41自動レイアウト

講師:高橋 寬 先生(愛媛大学大学院理工学研究科 教授)

6:43レイアウト検証

講師:高橋 寬 先生(愛媛大学大学院理工学研究科 教授)

16:13ADCのFFT試験での正弦波入力周波数とサンプリング周波数の望ましい関係

講師:小林春夫 先生(群馬大学名誉教授)

15:12AD変換器の高周波入力高速サンプリングと変換精度

講師:小林春夫 先生(群馬大学名誉教授)

10:09AD変換器試験での正弦波入力振幅と出力高調波歪振幅の関係

講師:小林春夫 先生(群馬大学名誉教授)

「応用と品質」科目個別問題

14:54シグナルインテグリティ

講師:佐藤康夫 先生(九州工業大学 客員教授)

11:02信頼度の計算

講師:佐藤康夫 先生(九州工業大学 客員教授)

14:04機能安全

講師:井上美智子 先生(奈良先端科学技術大学院大学 教授)

9:37基本的な統計分布

講師:井上美智子 先生(奈良先端科学技術大学院大学 教授)

16:00メモリの信頼性

講師:井上美智子 先生(奈良先端科学技術大学院大学 教授)

6:47FBMによるメモリ解析

講師:佐藤康夫 先生(元九州工業大学 客員教授)

7:53故障解析装置のいろいろ

講師:佐藤康夫 先生(元九州工業大学 客員教授)

9:50TDR法による故障解析

講師:佐藤康夫 先生(元九州工業大学 客員教授)

「パワーエレクトロニクス」科目個別問題

9:42パワーMOSFETの特性オン抵抗と耐圧の関係

講師:松田順一 先生(群馬大学)

8:58パワーMOSFETのスイッチング波形

講師:松田順一 先生(群馬大学)

11:53作り込むデバイスの種類と基板ウェーハの選定

講師:松崎一夫 先生(元富士電機総合研究所 主席研究員)

13:36薄ウェーハプロセス(裏面プロセス)

講師:松崎一夫 先生(元富士電機総合研究所 主席研究員)

15:01MOSFETのしきい値電圧は何に影響される?

講師:松田順一 先生(群馬大学)

16:53非絶縁形DC-DCコンバータの出力電圧とスイッチ電圧

講師:落合政司 先生(元芝浦工業大学)

14:46絶縁形DC-DCコンバータ

講師:落合政司 先生(元芝浦工業大学)

12:59パワーモジュール構造

講師:山本秀和 先生(千葉工業大学)

12:22パワーモジュール製造

講師:山本秀和 先生(千葉工業大学)

15:58パワーモジュール高性能化

講師:山本秀和 先生(千葉工業大学)

11:39パワーデバイス故障メカニズム

講師:遠藤幸一 先生(元 東芝デバイス&ストレージ(株))

7:59パワーデバイス設計品質

講師:遠藤幸一 先生(元 東芝デバイス&ストレージ(株))

12:23パワーサイクル試験

講師:遠藤幸一 先生(元 東芝デバイス&ストレージ(株))

12:43IGBTの耐圧

講師:松田順一 先生(群馬大学 協力研究員)

12:21IGBTのラッチアップ

講師:松田順一 先生(群馬大学 協力研究員)

14:54パワーデバイスの高性能化に必要なプロセス技術とは?

講師:松崎一夫 先生(元富士電機総合研究所 主席研究員)

11:13パワーモジュール製造

講師:山本秀和 先生(PDEA 広報担当理事)

12:08パワーモジュール高性能化

講師:山本秀和 先生(PDEA 広報担当理事)

12:05信頼性 酸化膜不良Bモード

講師:遠藤幸一 先生(元 東芝デバイス&ストレージ(株))

18:01信頼性評価方法 加速試験

講師:遠藤幸一 先生(元 東芝デバイス&ストレージ(株))

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