半導体技術者検定対策動画

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半導体技術者検定 お申込み方法

お申込み方法

4:18お申込み方法

エレクトロニクス3級 出題問題解説

第1章

FinFETの構造と動作原理

9:20FinFETの構造と動作原理

講師:井上 智生先生
(広島市立大学大学院情報科学研究科 教授)

テストの質と歩留まり

9:38テストの質と歩留まり

講師:井上 智生先生
(広島市立大学大学院情報科学研究科 教授)

第2章

設計での品質考慮(劣化の考慮)

6:59設計での品質考慮(劣化の考慮)

講師:佐藤 康夫先生
(九州工業大学 客員教授)

故障メカニズム

6:42故障メカニズム

講師:佐藤 康夫先生
(九州工業大学 客員教授)

第3章

ASICの種類と特徴について

16:00ASICの種類と特徴について

講師:畠山 一実先生
(群馬大学 協力研究員)

イメージャの種類と特徴について

12:22イメージャの種類と特徴について

講師:畠山 一実先生
(群馬大学 協力研究員)

第4章

テスタを用いたデバイス試験

12:18テスタを用いたデバイス試験

講師:畠山 一実先生
(群馬大学 協力研究員)

ACパラメトリック試験の測定項目について

14:37ACパラメトリック試験の測定項目について

講師:畠山 一実先生
(群馬大学 協力研究員)

エレクトロニクス2級 出題問題解説

パワーエレクトロニクス

第1章

パワーMOSFETの特性オン抵抗と耐圧の関係

9:42パワーMOSFETの特性オン抵抗と耐圧の関係

講師:松田 順一先生
(群馬大学)

パワーMOSFETのスイッチング波形

8:58パワーMOSFETのスイッチング波形

講師:松田 順一先生
(群馬大学)

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