半導体技術者検定対策動画

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半導体技術者検定 お申込み方法

お申込み方法

4:18お申込み方法

エレクトロニクス3級 出題問題解説

第1章

FinFETの構造と動作原理

9:20FinFETの構造と動作原理

講師:井上 智生先生
(広島市立大学大学院情報科学研究科 教授)

テストの質と歩留まり

9:38テストの質と歩留まり

講師:井上 智生先生
(広島市立大学大学院情報科学研究科 教授)

第2章

設計での品質考慮(劣化の考慮)

6:59設計での品質考慮(劣化の考慮)

講師:佐藤 康夫先生
(九州工業大学 客員教授)

故障メカニズム

6:42故障メカニズム

講師:佐藤 康夫先生
(九州工業大学 客員教授)

第3章

ASICの種類と特徴について

16:00ASICの種類と特徴について

講師:畠山 一実先生
(群馬大学 協力研究員)

イメージャの種類と特徴について

12:22イメージャの種類と特徴について

講師:畠山 一実先生
(群馬大学 協力研究員)

第4章

テスタを用いたデバイス試験

12:18テスタを用いたデバイス試験

講師:畠山 一実先生
(群馬大学 協力研究員)

ACパラメトリック試験の測定項目について

14:37ACパラメトリック試験の測定項目について

講師:畠山 一実先生
(群馬大学 協力研究員)

エレクトロニクス2級 出題問題解説

科目共通問題

システムの信頼度

11:38システムの信頼度

講師:井上 美智子先生
(奈良先端科学技術大学院大学 教授)

機能安全

13:05機能安全

講師:井上 美智子先生
(奈良先端科学技術大学院大学 教授)

ベアチップ実装におけるボンディング技術

11:29ベアチップ実装におけるボンディング技術

講師:松崎 一夫先生
(元富士電機総合研究所 主席研究員)

シート抵抗または抵抗率は抵抗にどう関係する?

13:14シート抵抗または抵抗率は抵抗にどう関係する?

講師:松田 順一先生
(群馬大学)

「設計と製造」科目個別問題

ウェーハの製造

13:07ウェーハの製造

講師:畠山 一実先生
(群馬大学 協力研究員)

ダイシングによるダイ分割について

12:31ダイシングによるダイ分割について

講師:畠山 一実先生
(群馬大学 協力研究員)

設計検証(機能検証・論理検証)

18:37設計検証(機能検証・論理検証)

講師:梶原 誠司先生
(九州工業大学 教授)

低電力設計

21:40低電力設計

講師:梶原 誠司先生
(九州工業大学 教授)

安全動作領域(SOA)

10:09安全動作領域(SOA)

講師:井上 智生先生
(広島大学 大学院 教授)

汎用ロジックIC

9:28汎用ロジックIC

講師:井上 智生先生
(広島大学 大学院 教授)

「応用と品質」科目個別問題

シグナルインテグリティ

14:54シグナルインテグリティ

講師:佐藤 康夫先生
(九州工業大学 客員教授)

信頼度の計算

11:02信頼度の計算

講師:佐藤 康夫先生
(九州工業大学 客員教授)

「パワーエレクトロニクス」科目個別問題

パワーMOSFETの特性オン抵抗と耐圧の関係

9:42パワーMOSFETの特性オン抵抗と耐圧の関係

講師:松田 順一先生
(群馬大学)

パワーMOSFETのスイッチング波形

8:58パワーMOSFETのスイッチング波形

講師:松田 順一先生
(群馬大学)

作り込むデバイスの種類と基板ウェーハの選定

11:53作り込むデバイスの種類と基板ウェーハの選定

講師:松崎 一夫先生
(元富士電機総合研究所 主席研究員)

薄ウェーハプロセス(裏面プロセス)

13:36薄ウェーハプロセス(裏面プロセス)

講師:松崎 一夫先生
(元富士電機総合研究所 主席研究員)

MOSFETのしきい値電圧は何に影響される?

15:01MOSFETのしきい値電圧は何に影響される?

講師:松田 順一先生
(群馬大学)

非絶縁形DC-DCコンバータの出力電圧とスイッチ電圧

16:53非絶縁形DC-DCコンバータの出力電圧とスイッチ電圧

講師:落合 政司先生
(元芝浦工業大学)

絶縁形DC-DCコンバータ

14:46絶縁形DC-DCコンバータ

講師:落合 政司先生
(元芝浦工業大学)

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